特許
J-GLOBAL ID:200903020048324572

液晶セル検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 蔦田 璋子 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-038114
公開番号(公開出願番号):特開平8-233690
出願日: 1995年02月27日
公開日(公表日): 1996年09月13日
要約:
【要約】【目的】 高温状態で液晶セルを容易に検査することができる液晶セル検査装置を提供するものである。【構成】 断熱性を有するトランク室12の上面に開口部30を設け、トランク室12の内部に熱風発生装置20を設け、トランク室12の外部に検査用プローブ32を設け、開口部14を液晶セル16で覆い、この液晶セル16の裏面を熱風発生装置20からの熱風によって加熱する。そして、この状態で液晶セルの出画検査を行う。
請求項(抜粋):
断熱性を有するトランク室と、前記トランク室に開口した開口部と、前記トランク室内部に設けられた熱風発生手段と、前記トランク室の外部における前記開口部の縁部に設けられた検査用プローブとからなり、検査対象たる液晶セルを前記トランク室の外部に配して前記開口部を覆い、前記液晶セルと前記検査用プローブとを接続し、前記液晶セルの裏面を前記熱風発生手段によって加熱しつつ出画検査を行うことを特徴とする液晶セル検査装置。
IPC (2件):
G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101
FI (2件):
G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101

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