特許
J-GLOBAL ID:200903020071504260

製造ライン管理システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石川 泰男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-052967
公開番号(公開出願番号):特開平10-254536
出願日: 1997年03月07日
公開日(公表日): 1998年09月25日
要約:
【要約】【課題】 製造ラインの動作状況を管理するとともに製造される製品の品質を管理することが可能な製造ライン管理システムを提供する。【解決手段】 複数の工程を有する製造ラインの管理システムにおいて、前記各工程毎に設けられ、前記工程において行われる作業に関連する測定又は検査の結果を示す検査データを出力する複数のデータ測定部と、前記複数のデータ測定部から、並列的に前記検査データを収集するデータ収集部と、収集された各検査データの演算をリアルタイムで行う演算部と、演算された検査データをリアルタイムで処理し、前記製造ラインの稼動中の前記検査データの推移を示す推移データを継続的に作成するデータ処理部と、前記推移データを表示する表示部と、を備えて構成する。
請求項(抜粋):
複数の工程を有する製造ラインの管理システムにおいて、前記各工程毎に設けられ、前記工程において行われる作業に関連する測定又は検査の結果を示す検査データを出力する複数のデータ測定部と、前記複数のデータ測定部から、並列的に前記検査データを収集するデータ収集部と、収集された各検査データの演算をリアルタイムで行う演算部と、演算された検査データをリアルタイムで処理し、前記製造ラインの稼動中の前記検査データの推移を示す推移データを継続的に作成するデータ処理部と、前記推移データを表示する表示部と、を備えることを特徴とする製造ライン管理システム。
IPC (2件):
G05B 23/02 302 ,  G06F 17/60
FI (2件):
G05B 23/02 302 M ,  G06F 15/21 R

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