光起電力モジュールの特性検査方法及び装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：渡辺敬介 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-230962
公開番号（公開出願番号）：特開2003-046102
出願日： 2001年07月31日
公開日（公表日）： 2003年02月14日
要約：

【要約】【課題】光起電力モジュールの簡便で安価な特性検査方法及び装置を提供すること。【解決手段】少なくとも1つのバイパスダイオードを有する光起電力素子を複数直列接続して構成した光起電力モジュールの特性検査方法において、単一の前記光起電力素子の面積と同じ面積の光照射領域を持つ特性検査用の光照射器を前記光起電力モジュール受光面上で前記直列接続の方向に移動させながら連続測定した光起電圧特性の最小値を良否判定値とする。

請求項（抜粋）：

少なくとも1つのバイパスダイオードを有する光起電力素子を複数直列接続して構成した光起電力モジュールの特性検査方法において、単一の前記光起電力素子の面積と同じ面積の光照射領域を持つ特性検査用の光照射器を前記光起電力モジュール受光面上で前記直列接続の方向に移動させながら連続測定した光起電圧特性の最小値を良否判定値とすることを特徴とする光起電力モジュールの特性検査方法。

FI (2件)：

H01L 31/04 K , H01L 31/04 S

Fターム (3件)：

5F051EA06 , 5F051KA09 , 5F051KA10

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