特許

J-GLOBAL ID：200903020090764760

機器の試験方法および試験装置

発明者： 石井 武彦
出願人/特許権者： 株式会社日立エンジニアリングサービス
代理人 (1件)： 高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-252671
公開番号（公開出願番号）：特開平9-096655
出願日： 1995年09月29日
公開日（公表日）： 1997年04月08日
要約：

【要約】【課題】電力用制御システムを構成するAVR等の機器の現地試験を自動化し、作業効率の向上と省力化をはかる試験方法と装置を提供する。【解決手段】静特性試験時に、計算機2の静特性試験処理手段221は、試験信号発生装置3に指示してAVR1に試験信号を順次入力して、その出力端子8から試験項目に対応した測定値を順次サンプリングして評価し、試験後に対象試験回路に設定された試験条件(ゲイン、ダンピング等)を条件算出手段233により求め、メモリ23の領域231に格納する。動特性試験時に、動特性試験処理手段223は、出力端子8から試験項目に対応した測定値を所定周期で所定時間サンプリングし、時系列データを測定値領域233に格納する。そのサンプリング中に動調整が行われた場合は、時系列データを基に変更された試験条件を算出し、試験条件領域231の該当値を更新する。

請求項（抜粋）：

電力系統制御システムの構成要素で、PTやCTを介して系統と接続される機器の試験方法において、対象機器の試験項目に応じて、指示値を示してPT二次信号および/またはCT二次信号を模擬した試験信号を発生させ、前記試験信号を入力とする前記対象機器の出力信号を前記試験項目に対応した出力端子からサンプリングし、同一値とみなされるデータが所定数連続するとき測定値として取得し、この測定値を前記信号値に対応して予め定めた基準値と比較して合否判定し、合格の場合には静特性試験データとして確保し、不合格の場合は前記対象機器の前記試験項目に関する試験条件の再設定を待って、上記一連の処理を繰り返すことを特徴とする機器の試験方法。

IPC (3件)：

G01R 31/00 ,  G01R 21/133 ,  H02J 3/00

FI (4件)：

G01R 31/00 ,  G01R 21/133 A ,  H02J 3/00 K ,  H02J 3/00 G

引用特許：

審査官引用 (1件)

• シミュレータ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-080133   出願人：三菱電機株式会社