座標化蛍光透視法を用いた解剖学的対象の測定装置および方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：浅村皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-593243
公開番号（公開出願番号）：特表2002-534204
出願日： 2000年01月18日
公開日（公表日）： 2002年10月15日
要約：

【要約】同一解剖学的対象の二つの異なる角度から得た二つの蛍光透視像を共通3次元座標系に登録する。二つの登録された蛍光透視像に鑑みて解剖学的対象の境界に相当する3次元座標系内の二つの拘束点を特定し、この二点間の直線距離を計算することにより、解剖学的対象の寸法が求まる。さらに、移植の3次元見かけモデルが、二つの登録された蛍光透視像の各々に投影され、、外科医は、投影を操作して見かけのモデルのサイズと形状を調節する。これにより移植のパラメータを決定する。

請求項（抜粋）：

二つ以上の蛍光透視像を用いて解剖学的特徴の寸法を求めるコンピュータ支援方法において、第1姿勢から選んだ解剖学的特徴から得て、共通3次元座標系に位置合わせされる第1蛍光透視像を表示する段階と第1像内に示される少なくとも二つの解剖学的境界標にそれぞれ対応する第1像内における少なくとも第1点と第2点の位置に関する指示を受ける段階と、第2角度からの解剖学的特徴から得て、既知の3次元座標系に位置合わせされる第2蛍光透視像を表示する段階と、前記解剖学的境界標が、前記3次元座標系内の前記第1および第2点で規定される二つの照準線の各々に沿って存在する場所を、前記第2像について指示する段階と、前記第1および第2点によって特定される線の距離を求める段階とを含む、二つ以上の蛍光透視像を用いて解剖学的特徴の寸法を求めるコンピュータ支援方法。

IPC (6件)：

A61B 6/00 , A61B 6/00 390 , A61B 19/00 501 , G06T 1/00 290 , G06T 1/00 315 , G06T 17/40

FI (6件)：

A61B 6/00 390 C , A61B 19/00 501 , G06T 1/00 290 A , G06T 1/00 315 , G06T 17/40 A , A61B 6/00 350 B

Fターム (28件)：

4C093AA26 , 4C093AA30 , 4C093CA32 , 4C093FF22 , 4C093FF33 , 5B050BA03 , 5B050BA12 , 5B050BA15 , 5B050CA07 , 5B050EA07 , 5B050EA27 , 5B050FA02 , 5B050FA09 , 5B050FA13 , 5B057AA09 , 5B057BA03 , 5B057BA24 , 5B057BA26 , 5B057CA08 , 5B057CA13 , 5B057CA16 , 5B057CB08 , 5B057CB13 , 5B057CB16 , 5B057CD14 , 5B057DA07 , 5B057DA16 , 5B057DB03

引用特許：

審査官引用 (1件)

特許第5799055号

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