特許
J-GLOBAL ID：200903020153099576
ライトテスト方法及び光情報記録装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-008074
公開番号（公開出願番号）：特開平8-203079
出願日： 1995年01月23日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：
【要約】【目的】 多値制御による記録パワーの制御であっても、簡便で精度よく記録パワーを最適値に設定できるようにする。【構成】 光磁気ディスク1にテスト記録を行って光ビームの記録パワーを最適値に設定するライトテスト方法であって、ディスク1に予め記録されているロープロセスのパワーレベルPL、ハイプロセスのパワーレベルPH、及び熱干渉度の度合Othを読み取る工程と、この読み取られた情報に基づいて光ビームの多値制御信号のレベルを求め、かつこれらの多値制御信号の比を算出する工程と、この比を一定に保ったままで光ビームの記録パワーを変化させて所定の試し書きパターンをディスク1に記録し、試し書きパターンを記録するごとに試し書きパターンを再生して再生信号のアシンメトリーを検出し、アシンメトリーの検出結果に基づいて光ビームの最適パワーを決定する工程とを具備する。
請求項（抜粋）：
光学的情報記録媒体にテスト記録を行って光ビームの記録パワーを最適値に設定するライトテスト方法であって、前記記録媒体に予め記録されているロープロセスのパワーレベル、ハイプロセスのパワーレベル、及び熱干渉度の度合を読み取る工程と、この読み取られた情報に基づいて光ビームの多値制御信号のレベルを求め、かつこれらの多値制御信号の比を算出する工程と、この比を一定に保ったままで光ビームの記録パワーを変化させて所定の試し書きパターンを前記記録媒体に記録すると共に、試し書きパターンを記録するごとに試し書きパターンを再生して再生信号のアシンメトリーを検出し、アシンメトリーの検出結果に基づいて光ビームの最適パワーを決定する工程とを有することを特徴とするライトテスト方法。
IPC (3件)：
G11B 7/00
, G11B 7/125
, G11B 11/10 551
