特許
J-GLOBAL ID:200903020235664727

半導体処理リアクタ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 稔 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-201143
公開番号(公開出願番号):特開平8-055843
出願日: 1987年12月18日
公開日(公表日): 1996年02月27日
要約:
【要約】【課題】 超高圧を含む、広範囲の圧力にわたって均一な蒸着を提供する半導体処理リアクタを提供することを目的とする。【解決手段】 ウェーハを水平に取付けるための真空室を構成し、かつ、ウェーハ取付け位置の上に、該取付け位置においてウェーハに反応ガスを供給するための水平入口ガスマニホルドを有するハウジングと、真空室内のウェーハ取付け位置の下方周囲に取付けられ、かつ、環状配列の排出孔を有するガス整流プレートと、真空排出ポンプ手段と、孔配列の下方に位置しこれと連通し、かつ、真空排出ポンプ手段と連通する排出口を有する環状溝とを含み、該環状溝の容積は、半径方向ガス流がウェーハ取付け位置を横断し排出口から溝の中に流入することができるほど、排出口に対して伝導力を提供することを特徴とする。
請求項(抜粋):
内部でウェーハをガス化学処理するようになった室を構成するハウジングと、室の底部を形成する輻射エネルギ透過窓と、室内で支持されていて、ウェーハを支持するためのサセプタとを含み、前記ハウジングは、窓の下方でハウジングに取付けられていて、ランプからの実質的に平行な輻射エネルギの環状ビームを、サセプタの中央部分でよりも縁部においてより大きな入射密度で、窓を介してサセプタに差し向けるための輻射加熱手段をさらに有することを特徴とする半導体処理リアクタ。
IPC (7件):
H01L 21/31 ,  C23C 16/48 ,  C23C 16/50 ,  C23F 4/00 ,  C30B 25/14 ,  H01L 21/205 ,  H01L 21/3065
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭60-219724
  • 特開昭60-125371

前のページに戻る