プリント基板のマーク位置認識装置及び方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-077229
公開番号（公開出願番号）：特開平6-288715
出願日： 1993年04月02日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：

【要約】【目的】多層積層基板の基準穴をあけるための計測マークの認識について、各層の計測マークの位置のばらつきに影響せずに計測マークの中心位置を認識することを可能にする。【構成】X線カメラ1が計測マークのX線透過画像を取り込み、その信号をA/D変換回路2により多値のディジタルデータに変換し、その多値の画像データから計測マーク以外の領域をマスクした上で、投影回路10が画像データを投影し、計数回路12が投影データeをエッジから走査しながら計数し、投影総和の1/2のところの座標を、計測マークの中心座標として出力する。

請求項（抜粋）：

基板に設けられた計測マークにX線を照射した際のX線透過画像を取り込むX線カメラと、このX線カメラが取り込んだ透過画像のアナログ濃淡信号を画像毎にディジタル値に変換するA/D変換回路と、前記A/D変換回路の出力データの1の補数をとることによって濃淡値の反転値を出力する濃淡値反転回路と、X線カメラが取り込んだ透過画像の中の計測マークを認識する計測マーク認識回路と、前記計測マーク認識回路で認識した計測マーク内の全ての画素の濃淡反転値の総和を求めるマーク内データ総和回路と、マーク内データ総和回路で求めた総和をそれぞれ2分割するような重心位置座標となる、X座標およびY座標を前記計測マークの中心として求める計数回路とを含むことを特徴とするプリント基板のマーク位置認識装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 , G06F 15/62 405 , H05K 13/00

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平2-170595
特開平1-265102
特開昭63-200001

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