特許

J-GLOBAL ID：200903020269845933

パンチユニットを位置補正するTAB試験装置

発明者： 北嶋 康久
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-309869
公開番号（公開出願番号）：特開平8-148532
出願日： 1994年11月18日
公開日（公表日）： 1996年06月07日
要約：

【要約】【目的】 パンチユニット2の位置を補正するTAB試験装置を提供する。【構成】 先頭のTABを撮像してしてパンチユニット2のパンチがTABの所定の位置に識別穴をあけるよう予めパンチユニット2を位置合わせする。このときのTABの画像データを初期データとして制御ユニット5内のメモリに記憶しておく。2番目以降のTABをカメラ3Aで撮像し、このときの撮像データと前記初期データを比較照合し、位置補正量をパンチユニット2の移動手段に指令すれば、2番目以降のTABは自動的にTABのパンチの打抜き位置を補正できる。

請求項（抜粋）：

測定されたTABを測定結果により前記TABに識別穴をあけるTAB試験装置であって、TABテープ(1) の走行方向に微小移動またはTABテープ(1) の走行方向と直交方向に微小移動するパンチユニット(2) と、パンチユニット(2) に対応するTABを撮像するカメラ(3A)と、カメラ(3A)による画像データを受信する画像処理ユニット(4) と、画像処理ユニット(4) の前記画像データを入力する制御ユニット(5) とを備え、TABテープ(1) の先頭のTABを撮像して前記撮像データを制御ユニット(5) に初期データとして記憶し、2番目以降のTABを撮像し、前記初期データと比較照合し、パンチユニット(2) の位置を補正することを特徴とするパンチユニットを位置補正するTAB試験装置。

IPC (3件)：

H01L 21/66 ,  H01L 21/60 311 ,  H01L 21/60 321