特許
J-GLOBAL ID：200903020281363979
IC力一ドの品質計量装置及びICカードの品質計量方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-340628
公開番号（公開出願番号）：特開2001-155133
出願日： 1999年11月30日
公開日（公表日）： 2001年06月08日
要約：
【要約】【課題】ICカード使用時の不具合の原因を判別することができるICカード発行検査システムを提供することにある。【解決手段】品質保証保管庫600には、ICカードの製造中にロット保証用に抜き取られたICカードが、品質を保持しながら保管される。疑似経年変化手段410は、品質保証保管庫に保管されたICカード500に対して、温湿度試験槽412,曲げ・ひねり試験機414,論理動作解析装置416等により、ICカードに対して擬似的な経年変化を施し、擬似的な経年変化の施されたICカードと不具合の発生したICカードの比較により、ICカード使用時の不具合の原因を判別する。
請求項（抜粋）：
ICカードの製造中にロット保証用に抜き取られたICカードを、品質を保持しながら保管する品質保証保管庫と、ICカードに対して擬似的な経年変化を施す疑似経年変化手段とを備え、上記品質保証保管庫に保管されたICカードに対して、上記疑似経年変化手段により擬似的な経年変化を施し、擬似的な経年変化の施されたICカードと不具合の発生したICカードの比較により、ICカード使用時の不具合の原因を判別することを特徴とするICカードの品質計量装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06K 17/00 B
, G06K 19/00 K
5B035AA00
, 5B035BB09
, 5B035BC08
, 5B035CA33
, 5B058CA01
, 5B058KA02
, 5B058KA04
, 5B058KA11
, 5B058KA28
, 5B058YA20
