特許

J-GLOBAL ID：200903020289733120

物体検知装置

発明者： 織田 肇 ,  伊藤 均
出願人/特許権者： セイコープレシジョン株式会社
代理人 (1件)： 松田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-189842
公開番号（公開出願番号）：特開平11-037714
出願日： 1997年07月15日
公開日（公表日）： 1999年02月12日
要約：

【要約】【課題】 測距手段の前面に所定の間隔をおいてフィルタ部材を配置して、被検出体が常に測距可能範囲内に入るようにし、測距精度を良くする。【解決手段】 発光素子11から投光された光が被検出体Tで反射し、この反射光を受光手段12で受光して信号を出力する測距手段1と、測距手段1の前面に所定の間隔をおいて設けたフィルタ部材3とを有する。フィルタ部材3は、発光素子11から投光された光のうち、フィルタ部材3の内面で反射または散乱する光を受光素子12へ向かう方向とは異なる方向へ反射させる傾斜角度θをもって設ける。

請求項（抜粋）：

発光手段から投光された光が被検出体で反射し、この反射光を受光手段で受光して信号を出力する測距手段と、上記測距手段の前面に所定の間隔をおいて設けられているフィルタ部材とを有し、上記フィルタ部材は、上記発光手段から投光された光のうち、当該フィルタ部材の内面で反射または散乱する光を上記受光手段へ向かう方向とは異なる方向へ反射させる傾斜角度をもって設けてあることを特徴とする物体検知装置。

IPC (4件)：

G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G01J 1/04 ,  G01V 8/14

FI (4件)：

G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 A ,  G01J 1/04 B ,  G01V 9/04 B

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭64-006810
  
• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-229740   出願人：株式会社ニコン
• 測長装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-320822   出願人：ウシオ電機株式会社
• 特開平1-206205