特許

J-GLOBAL ID：200903020341012160

設備劣化診断システムにおける情報検出方法

発明者： 有田 芳夫 ,  林 久高
出願人/特許権者： 三菱化学株式会社 ,  山武ハネウエル株式会社
代理人 (1件)： 堀 進 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-304158
公開番号（公開出願番号）：特開平9-145404
出願日： 1995年11月22日
公開日（公表日）： 1997年06月06日
要約：

【要約】【課題】 設備の劣化診断を行うシステムにおいて、診断対象の設備から検出される経時的データのサンプリング周期を適切なものに自動的に変更する方法を提供する。【解決手段】 対象とする設備に関する情報を、予め所定の場所に配置されたセンサにより経時的に検出し、その検出情報を、予め記録されている情報と組み合わせて設備の劣化診断を行う設備劣化診断システムにおける情報検出方法であって、予め設定した複数の周期のうちから選択した周期で、設備に関する情報を検出し、それらの検出情報から当該設備の劣化傾向を示す変数を特定し、その変数の値の経時的な変化に応じて情報を検知する周期を切り替えることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

対象とする設備に関する情報を、予め所定の場所に配置されたセンサにより経時的に検出し、その検出情報を、予め記録されている情報と組み合わせて設備の劣化診断を行う設備劣化診断システムにおける情報検出方法であって、予め設定した複数の周期のうちから選択した周期で、前記設備に関する情報を検出し、それらの検出情報から当該設備の劣化傾向を示す変数を特定し、その変数の値の経時的な変化に応じて前記情報を検知する周期を切り替えることを特徴とする情報検出方法。

IPC (4件)：

G01D 1/18 ,  G01D 21/00 ,  G01M 19/00 ,  G05B 23/02 301

FI (4件)：

G01D 1/18 N ,  G01D 21/00 Q ,  G01M 19/00 Z ,  G05B 23/02 301 V