特許

J-GLOBAL ID：200903020369213446

低スプリアスを達成するサンプル・アンド・ホールド位相検出方法及びサンプル・アンド・ホールド位相検出器

発明者： アブデルラティフ ベラオウアル ,  アフメド アール、フリディ
出願人/特許権者： テキサス インスツルメンツ インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-248084
公開番号（公開出願番号）：特開2002-111487
出願日： 2001年08月17日
公開日（公表日）： 2002年04月12日
要約：

【要約】【課題】 サンプル・アンド・ホールド位相検出器におけるスプリアス出力を低下させた方法、及びその方法による位相検出器を提供する。【解決手段】 サンプル・アンド・ホールド位相検出器(500)のサンプル期間(606)後にランプ・ノード(502)を第1の電圧レベルに充電した後、ホールド期間(614)のプリチャージ期間(610)において前記ランプ・ノード(502)を第2の電圧レベルにプリチャージしてSHスイッチ(514)における漏洩電流を減少させ、これによって電圧ドリフトを最小化させてSH位相検出器(500)のスプリアスの軽減を達成する。

請求項（抜粋）：

サンプル・アンド・ホールド・スイッチに接続されたランプ・ノードを有するサンプル・アンド・ホールド位相検出器におけるスプールを低下させる方法において、(a)サンプル期間が発生した後にランプ・ノードを第1の電圧レベルに充電するステップと、(b)ステップ(a)の後にランプ・ノードを第2の電圧レベルに充電するステップとを備えた方法。

Fターム (9件)：

5J106AA04 ,  5J106CC01 ,  5J106CC25 ,  5J106CC41 ,  5J106CC53 ,  5J106DD08 ,  5J106GG04 ,  5J106JJ02 ,  5J106KK26