特許

J-GLOBAL ID：200903020388161856

落下試験装置

発明者： 紀之内 隆生 ,  中島 英敏
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 安富 耕二 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-238837
公開番号（公開出願番号）：特開2000-065677
出願日： 1998年08月25日
公開日（公表日）： 2000年03月03日
要約：

【要約】【課題】落下試験時、所望の姿勢を保ったまま試験を行うことが出来ず、試験の再現性が大変悪かった。【解決手段】被試験物6を紐状素材10により吊り下げて任意の姿勢に保持するホルダー4を、落下ガイドレール3に沿って前記被試験物6を前記ホルダー4と共に高所から落下させることにより落下試験を実行する構成である。

請求項（抜粋）：

被試験物を任意の姿勢に保持した状態で落下させ、被試験物の落下試験を行うことを特徴とする落下試験装置。

IPC (2件)：

G01M 7/08 ,  G01N 3/30

FI (2件)：

G01M 7/00 H ,  G01N 3/30 J

Fターム (5件)：

2G061AA13 ,  2G061AB04 ,  2G061BA15 ,  2G061CB00 ,  2G061CC20