特許
J-GLOBAL ID：200903020428482162

走査型光学装置および観察方法

発明者：
山下 裕介

山下 裕介 について

, 
岡田 純一

岡田 純一 について

, 
上野 牧男

上野 牧男 について


出願人/特許権者：
オリンパス株式会社

オリンパス株式会社 について


代理人 (2件)： 上田 邦生 ,  藤田 考晴
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-105568
公開番号（公開出願番号）：特開2008-261769
出願日： 2007年04月13日
公開日（公表日）： 2008年10月30日
要約：
【課題】試料における集光位置の深さが変動することによる散乱の変化に関わらず、簡易に鮮明な蛍光画像を取得する。【解決手段】レーザ光を出射するレーザ光源と、該レーザ光源から出射されたレーザ光を試料A上において走査させる走査部と、走査されるレーザ光の試料A内における集光位置の深さを調節する集光深さ調節部と、試料A内におけるレーザ光の集光位置から発せられる蛍光を検出する蛍光検出部と、集光深さ調節部によるレーザ光の試料A内における集光位置の所定の基準深さの絶対高さZ10を記憶する基準深さ情報記憶部と、レーザ光の各集光位置における、基準深さの絶対高さZ10に対する相対高さd1〜d5とレーザ光源、走査部または蛍光検出部の少なくとも1つの設定値HW1〜HW5とを対応づけて記憶するハードウェア設定記憶部とを備える走査型光学装置を提供する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
レーザ光を出射するレーザ光源と、 該レーザ光源から出射されたレーザ光を試料上において走査させる走査部と、 該走査部により走査されるレーザ光の試料内における集光位置の深さを調節する集光深さ調節部と、 前記試料内におけるレーザ光の集光位置から発せられる蛍光を検出する蛍光検出部と、 前記集光深さ調節部により調節される集光位置の所定の基準深さにおける絶対高さを記憶する基準深さ情報記憶部と、 レーザ光の各集光位置における、前記基準深さの絶対高さに対する相対高さと前記レーザ光源、前記走査部または前記蛍光検出部の少なくとも1つの設定値とを対応づけて記憶するハードウェア設定記憶部とを備える走査型光学装置。
IPC (3件)：
G01N 21/64 ,  G02B 26/10 ,  G02B 21/00
FI (3件)：
G01N21/64 E ,  G02B26/10 C ,  G02B21/00
Fターム (29件)：
2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA02 ,  2G043GA04 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043HA15 ,  2G043JA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043NA06 ,  2H045AB01 ,  2H045BA12 ,  2H045DA31 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AB24 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD06 ,  2H052AD34 ,  2H052AF02 ,  2H052AF06 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • レーザ顕微鏡
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-080029   出願人：オリンパス光学工業株式会社
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM