特許

J-GLOBAL ID：200903020441235042

共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法

発明者： 中田 竜男
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (4件)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  村松 貞男 ,  風間 鉄也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-086212
公開番号（公開出願番号）：特開2004-004678
出願日： 2003年03月26日
公開日（公表日）： 2004年01月08日
要約：

【課題】標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。【解決手段】第1のレーザ光源からのレーザ光で標本の走査画像を得るための第1の走査光学系(100、100′)と、前記第1のレーザ光源とは異なる第2のレーザ光源からのレーザ光で前記標本の特定部位を走査して、特異現象を発現させるための第2の走査光学系(200)と、前記第1の走査光学系と前記第2の走査光学系の少なくとも一方のレーザ光のビーム径を変化させることができるビーム径可変機構(102、202)とを備えた。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

第1のレーザ光源からのレーザ光で標本の走査画像を得るための第1の走査光学系と、 前記第1のレーザ光源とは異なる第2のレーザ光源からのレーザ光で前記標本の特定部位を走査して、特異現象を発現させるための第2の走査光学系と、 前記第1の走査光学系と前記第2の走査光学系の少なくとも一方のレーザ光のビーム径を変化させることができるビーム径可変機構とを具備することを特徴とする共焦点顕微鏡装置。

IPC (2件)：

G02B21/00 ,  G01N21/64

FI (3件)：

G02B21/00 ,  G01N21/64 E ,  G01N21/64 F

Fターム (33件)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043GA02 ,  2G043GB01 ,  2G043GB02 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2H052AA08 ,  2H052AA09 ,  2H052AB24 ,  2H052AC14 ,  2H052AC15 ,  2H052AC16 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD31 ,  2H052AF07 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21

引用特許：

審査官引用 (1件)

• レーザ走査顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-294107   出願人：オリンパス光学工業株式会社