特許
J-GLOBAL ID：200903020453878259
物体外形認識装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
後藤 洋介 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-177766
公開番号（公開出願番号）：特開2000-009441
出願日： 1998年06月24日
公開日（公表日）： 2000年01月14日
要約：
【要約】【課題】 被測定物の外形認識を行う際、レーザ光のスキャン時間を短縮して被測定物の外形を短時間で認識する。【解決手段】 電子スキャン装置2によってレーザ光の偏向角が制御され、被測定物にレーザ光を発信される。被測定物からレーザ反射光を受光系3で受光する。受信レーザ光は光検知器4によって受信信号に変換される。距離演算部5にはレーザ光の発信と同期した発信信号が距離演算部5に与えられており、距離演算部では、発信信号と受信信号とを受けた時間に基づいて被測定物まで測距値を求める。信号処理部6では測距値とレーザ光の偏向角に応じて偏向角制御信号を電子スキャン装置2に与えて、被測定物の外形近傍をスキャンする。そして、信号処理部6では偏向角及び測距値に基づいて被測定物の外形を認識する。このようにして、電子スキャン装置を制御すると、スキャンが高速化され、被測定物の外形を認識するまでの時間を短くすることができる。
請求項（抜粋）：
レーザ光を用いて被測定物の外形を3次元的に計測して認識する際に用いられる3次元計測装置であって、レーザ光をスキャンして発信レーザ光として発信するスキャン手段と、前記発信レーザ光に応じた反射レーザ光を受け受信信号として検出する検出手段と、前記レーザ光の発信から前記受信信号を受けるまでの時間に基づいて前記被測定物の有無及び前記被測定物まで距離を測距値として求める距離演算手段と、前記被測定物の有無に応じて前記スキャン手段を制御して前記レーザ光をスキャンさせて前記測距値に基づいて前記被測定物の外形を認識する処理手段とを有することを特徴とする物体外形認識装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/24 A
, G01S 17/88 Z
2F065AA51
, 2F065DD02
, 2F065DD06
, 2F065FF12
, 2F065FF33
, 2F065GG04
, 2F065JJ01
, 2F065JJ15
, 2F065LL02
, 2F065LL46
, 2F065MM16
, 5J084AA13
, 5J084AB20
, 5J084AC01
, 5J084AD01
, 5J084BA03
, 5J084BA14
, 5J084BA36
, 5J084BA50
, 5J084BB23
, 5J084BB24
, 5J084BB31
, 5J084DA01
, 5J084EA05
, 5J084EA31
