特許
J-GLOBAL ID：200903020590675381
イオントラップ質量分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 明夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-172023
公開番号（公開出願番号）：特開平10-021871
出願日： 1996年07月02日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：
【要約】【課題】 質量分析装置に関し、線形イオントラップ用いて高感度高分解能分析法を実現すること。【解決手段】 高周波四重極線形イオントラップと、その中心軸方向に調和ポテンシャルを形成するための手段と、このポテンシャル内部でイオンを共鳴振動させるための交流電圧印加手段と、電極構造から排出されてきたイオンを検出するためのイオン検出器を含む装置群からなる。
請求項（抜粋）：
線形イオントラップ電極構造と、該線形イオントラップ電極構造内にイオンを捕捉するための駆動電源と、前記線形イオントラップ電極構造の中心軸方向で電極構造外へのイオンの移動を抑制するために前記線形イオントラップ電極構造端部または中心軸方向の延長部に設けられた中心軸を共有する端電極、該端電極に所定の静電圧を与える電源、前記線形イオントラップ電極構造に試料をイオン化して導入するイオン化手段と、前記線形イオントラップ電極構造内でイオンを共鳴振動させ電極構造外に排出するための手段と、該排出されたイオンを検出するイオン検出手段とからなるイオントラップ質量分析装置において、前記線形イオントラップ電極構造から質量選択しながらイオンを排出させる際、前記端電極の持つ静電圧の影響を除去する手段を付加したことを特徴とする質量分析装置。
引用特許：
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