特許
J-GLOBAL ID：200903020626518369
反射鏡アンテナの反射鏡面精度評価装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野田 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-074271
公開番号（公開出願番号）：特開平7-260454
出願日： 1994年03月18日
公開日（公表日）： 1995年10月13日
要約：
【要約】【目的】 反射鏡の鏡面形状誤差が周期性を帯びているかを含め、反射鏡の鏡面精度を電気性能試験を行わずに評価できる反射鏡面精度評価装置を提供する。【構成】 撮影点P1,P3のスチルカメラ303で反射鏡面105をそれぞれ撮影し、撮影した各写真をイメージスキャナ305に読み込ませてデジタル画像データとし、画像処理器307による画像処理で各写真中の各ターゲット301の画像データを抽出し、それらの3次元位置座標をターゲット位置解析ユニット309で検出し、各ターゲット301の間隔に基づいて反射鏡面105の鏡面形状を示す関数f(x,y)を割り出し、鏡面誤差周期検出ユニット313で、反射鏡面105の理想鏡面形状を示す関数F(x,y)を差し引いた鏡面誤差関数ΔZ(x,y)を割り出し、これを高速フーリエ変換して、鏡面誤差関数ΔZ(x,y)の鏡面誤差周波数スペクトラムF(W1 ,W2 )を求める構成とした。
請求項（抜粋）：
反射鏡アンテナの反射鏡面の鏡面精度を評価する装置であって、前記反射鏡の鏡面形状を測定する鏡面形状測定手段と、前記反射鏡の所望の鏡面形状と、前記鏡面形状測定手段で測定された前記反射鏡の鏡面形状との誤差を高速フーリエ変換して、該誤差の周期性を割り出す鏡面誤差周期検出手段と、を備えることを特徴とする反射鏡アンテナの反射鏡面精度評価装置。
IPC (2件)：
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