特許

J-GLOBAL ID：200903020684915173

BGAコネクタの検査装置

発明者： エディ・アズマ
出願人/特許権者： バーグ・テクノロジー・インコーポレーテッド
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-156604
公開番号（公開出願番号）：特開2000-346622
出願日： 1999年06月03日
公開日（公表日）： 2000年12月15日
要約：

【要約】【課題】回路基板に実装されたBGAコネクタの検査装置【解決手段】BGAコネクタMを挟んで配置される一対の光ガイド部材12a,12と、これらの光ガイド部材を連結し、一対の光ガイド部材間の間隔を保持する連結部材14とを備え、一方の光ガイド部材12aから入射させた光を回路基板PとBGAコネクタMのハウジング8との間に導き、他方の光ガイド部材12bから出射させた光を通じて各半田ボール6の半田付け状態を検査可能とした検査装置

請求項（抜粋）：

回路基板に実装されたBGAコネクタを検査するためのBGAコネクタ用検査装置であって、BGAコネクタを挟んで対向配置される一対の光ガイド部材と、これらの光ガイド部材を連結し、一対の光ガイド部材間の間隔を保持する連結部材とを備え、これらの光ガイド部材は、回路基板から離隔した端部に形成される入射出口と、回路基板に近接した端部に配置され、入射出口を通る光を回路基板に平行な方向に反射する反射部と、この反射部と対向する部位に配置され、回路基板と平行な光を反射部に入射出させる側部口とを有し、一方の光ガイド部材から入射させた光を回路基板とBGAコネクタのハウジングとの間に導き、他方の光ガイド部材から出射させた光を通じて各半田ボールを検査可能とした装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  H01L 21/60 ,  H05K 3/34 512

FI (3件)：

G01B 11/24 A ,  H05K 3/34 512 B ,  H01L 21/92 604 T

Fターム (21件)：

2F065AA16 ,  2F065CC01 ,  2F065CC25 ,  2F065CC26 ,  2F065CC28 ,  2F065DD06 ,  2F065FF02 ,  2F065GG02 ,  2F065GG12 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ12 ,  2F065LL01 ,  2F065LL46 ,  2F065PP21 ,  2F065UU07 ,  5E319AA03 ,  5E319AB05 ,  5E319BB04 ,  5E319CD53 ,  5E319GG01