特許

J-GLOBAL ID：200903020693918789

キラリティ解析方法

発明者： 和田 明生 ,  高桑 尭 ,  真砂 央 ,  中西 香爾 ,  ニーナ ベローバ ,  董 建国
出願人/特許権者： 日本分光株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-170967
公開番号（公開出願番号）：特開平11-002606
出願日： 1997年06月12日
公開日（公表日）： 1999年01月06日
要約：

【要約】【課題】 本発明の目的はキラリティ解析に当たっての検出感度を大きく向上させることにある。【解決手段】キラリティを有する物質に蛍光性官能基を導入し、それを左右の円偏光で励起してそれぞれの蛍光強度を測定し、左円偏光励起と右円偏光励起の蛍光強度差情報より該物質のキラリティを解析することを特徴とするキラリティ解析方法。

請求項（抜粋）：

キラリティを有する物質に蛍光性官能基を導入し、それを左右の円偏光で励起してそれぞれの蛍光強度を測定し、左円偏光励起と右円偏光励起の蛍光強度差情報より該物質のキラリティを解析することを特徴とするキラリティ解析方法。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/19

FI (2件)：

G01N 21/64 A ,  G01N 21/19

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特表昭62-503055
  
• 特開昭53-042790
  
• 特開昭52-082722
  
• 特開昭62-038346
  
• 特表平5-503777