電子透かし検出処理装置、電子透かし埋め込み処理装置、および電子透かし検出処理方法、電子透かし埋め込み処理方法、並びにプログラム

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山田英治 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-139582
公開番号（公開出願番号）：特開2002-335392
出願日： 2001年05月10日
公開日（公表日）： 2002年11月22日
要約：

【要約】【課題】画像ずれの発生した画像からの電子透かしパターンの検出処理を効率的に実行する構成を提供する。【解決手段】埋め込んだ電子透かしパターンに対して小領域毎にずれを持たせた電子透かしパターンを用いて画像ずれ位置を探索することで、画像ずれ位置の効率的な探索、電子透かし検出処理が可能となる。また、埋め込んだ電子透かしパターンに対して小領域毎にずれを持たせた電子透かしパターンを用いて画像ずれ位置を探索する第1探索処理と、電子透かしパターン埋め込み時と同じ小領域設定の電子透かしパターンを用いて電子透かしの検出を行なう第2探索処理を併用することで、電子透かし検出の効率化、精度向上を実現する。

請求項（抜粋）：

電子透かし埋め込み画像である検出対象画像から電子透かしを検出する電子透かし検出処理装置であり、前記検出対象画像に埋め込まれた電子透かしに対して、複数の電子透かし埋め込み小領域において異なるずれ量を持つ電子透かしパターンを適用した相関検出処理により画像のずれ位置を探索する画像ずれ位置探索手段と、前記画像ずれ位置探索手段によって特定された画像ずれ位置において相関検出による電子透かし検出を実行する電子透かし検出手段と、を有することを特徴とする電子透かし検出処理装置。

IPC (4件)：

H04N 1/387 , G06T 1/00 500 , H04N 7/08 , H04N 7/081

FI (3件)：

H04N 1/387 , G06T 1/00 500 B , H04N 7/08 Z

Fターム (13件)：

5B057CE08 , 5B057CE09 , 5B057CG07 , 5B057DA07 , 5B057DC34 , 5C063AB07 , 5C063AC01 , 5C063DA13 , 5C063DA20 , 5C063DB09 , 5C076AA14 , 5C076BA06 , 5C076CA10

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