特許

J-GLOBAL ID：200903020740600113

吸収率測定機及び吸収率測定方法

発明者： 長谷川 雅宣 ,  大内 千種
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 伊東 哲也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-347533
公開番号（公開出願番号）：特開2003-149187
出願日： 2001年11月13日
公開日（公表日）： 2003年05月21日
要約：

【要約】【課題】 光照射によって温度上昇を生じる部品の熱容量の総和を求めることが困難な場合や、これらの部品間で温度上昇が異なる場合でも、光学部材の吸収率を高い精度で測定可能にする。【解決手段】 光源手段としてのF2 レーザ発振機21からの光で測定対象であるサンプル30に対し照射及び照射停止をしたときに、該サンプル30を保持しているサンプルホルダ31に生じた温度変化を温度センサ41で測定することにより、該サンプル30の該光に対する吸収率を測定する吸収率測定機であって、サンプル30への光の入射角度は0度と45度とに切換可能であり、サンプルホルダ31を照射光軸廻りに90度回転させる回転機構を有し、該回転機構により、サンプルへ照射する光の偏光面を90度変更可能である。

請求項（抜粋）：

光源手段からの光で測定対象であるサンプルに対し照射及び照射の停止をしたときに、該サンプルを保持しているサンプルホルダに生じた温度変化を温度センサで測定することにより、該サンプルの該光に対する吸収率を測定する吸収率測定機であって、前記サンプルへの光の入射角度を少なくとも0度と45度に切換可能とする手段を有することを特徴とする吸収率測定機。

IPC (3件)：

G01N 25/20 ,  G01M 11/02 ,  G01N 25/18

FI (3件)：

G01N 25/20 Z ,  G01M 11/02 Z ,  G01N 25/18 H

Fターム (8件)：

2G040AB08 ,  2G040AB12 ,  2G040DA02 ,  2G040DA12 ,  2G040EA02 ,  2G040EA06 ,  2G040EA08 ,  2G040EB02