特許
J-GLOBAL ID：200903020793310699
硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆サーメット製切削工具
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
富田 和夫
, 鴨井 久太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-130670
公開番号（公開出願番号）：特開2005-313245
出願日： 2004年04月27日
公開日（公表日）： 2005年11月10日
要約：
【課題】 硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆サーメット製切削工具を提供する。【解決手段】WC基超硬合金またはTiCN基サーメットで構成された工具基体の表面に、(a)下部層として、いずれも蒸着形成された3〜20μmの合計平均層厚を有するTi化合物層、(b)上部層として、化学蒸着形成した状態でα型の結晶構造を有し1〜30μmの平均層厚を有するα型Al2O3層、(c)表面層として、蒸着形成され、かつ0.5〜3μmの平均層厚を有するCrN層、以上(a)〜(c)で構成された硬質被覆層を形成してなる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
炭化タングステン基超硬合金または炭窒化チタン基サーメットで構成された工具基体の表面に、
(a)下部層として、いずれも蒸着形成されたTiの炭化物層、窒化物層、炭窒化物層、酸化物、炭酸化物層、および炭窒酸化物層のうちの1層または2層以上からなり、かつ0.5〜20μmの全体平均層厚を有するTi化合物層、
(b)上部層として、化学蒸着形成された状態でα型の結晶構造を有し、電界放出型走査電子顕微鏡を用い、表面研磨面の測定範囲内に存在する六方晶結晶格子を有する結晶粒個々に電子線を照射して、前記結晶粒の結晶面である(0001)面の前記表面研磨面の法線に対する傾斜角を測定し、前記個々の結晶粒が示す0〜45度の範囲内の測定傾斜角を0.25度のピッチ毎に区分し、各区分内に存在する測定傾斜角を区分毎に集計してなるポールプロットグラフにおいて、0〜10度の範囲内の傾斜角区分に最高ピークが現れ、かつ1〜30μmの平均層厚を有する酸化アルミニウム層、
(c)表面層として、蒸着形成され、0.5〜3μmの平均層厚を有する窒化クロム層、
以上(a)〜(c)で構成された硬質被覆層を形成してなる、硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆サーメット製切削工具。
IPC (3件)：
B23C5/16
, B23B27/14
, C23C16/30
B23C5/16
, B23B27/14 A
, C23C16/30
3C046FF03
, 3C046FF05
, 3C046FF10
, 3C046FF13
, 3C046FF16
, 3C046FF22
, 3C046FF25
, 4K030AA03
, 4K030AA09
, 4K030AA10
, 4K030AA14
, 4K030AA17
, 4K030AA20
, 4K030BA06
, 4K030BA18
, 4K030BA35
, 4K030BA36
, 4K030BA38
, 4K030BA41
, 4K030BA43
, 4K030BB01
, 4K030BB12
, 4K030CA03
, 4K030DA09
, 4K030FA10
, 4K030HA01
, 4K030JA01
, 4K030LA22
