特許
J-GLOBAL ID：200903020794436050
光学式測距装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-314667
公開番号（公開出願番号）：特開平6-160082
出願日： 1992年11月25日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：
【要約】【目的】投光素子が劣化しても一定の変調をかけた投光ビームを得る。【構成】レーザLAの発光パワーを受光素子PDで検出する。検波回路32で発光素子PDの出力から交流成分のみを検出する。検波回路32の出力に応じて増幅回路33の利得をレーザビームの変調量を一定とするように調節する。
請求項（抜粋）：
光ビームを被測定物体に投光する投光素子と、投光素子の光出力を検出して投光素子から発せられる投光ビームの平均光量を一定に保ち、一定周期で光強度を強弱に変化させる光強度変調をかける駆動回路と、被測定物体からの反射光を受光し受光面の被測定物体からの反射光による受光スポットの結像位置に応じた一対の位置検出信号を出力する位置検出素子と、位置検出素子の夫々の位置検出信号から上記変調がかけられた信号成分のみを検波する検波回路と、夫々の検波出力から被測定物体までの距離を算出する信号処理回路とを備える光学式測距装置において、投光ビームの変調量を検出する変調量検出手段と、検出された変調量に応じて変調量を一定に保つように投光素子に流れる電流を調整する電流制御手段とを上記駆動回路に設けて成ることを特徴とする光学式測距装置。
IPC (2件)：
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