特許
J-GLOBAL ID：200903020823288014
TABテープ試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-078578
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240900
出願日： 1992年02月28日
公開日（公表日）： 1993年09月21日
要約：
【要約】【目的】 順送りされるTABテープ10の下に導通試験用の電極6とインナーリード打抜き用のダイ5と絶縁試験用の電極8を配置し、プッシャ1を下げたとき、TABテープ10の導通試験とインナーリードの打抜きとTABテープ10の絶縁試験を同時にする。【構成】 プッシャ1はTABテープ10に対して昇降し、TABテープ10を押す。導通試験器7はプッシャ1により電極6に押し付けられたTABテープ10のパターン10Aの導通を試験する。ポンチ3は駆動源2により上下動し、導通試験後のTABテープ10をポンチ3とダイ5で打ち抜く。絶縁試験器9はプッシャ1により電極8に押し付けられたTABテープ10のパターン10Aの絶縁を試験する。
請求項（抜粋）：
TABテープ(10)の上に保持され、TABテープ(10)に対して昇降し、TABテープ(10)を押すプッシャ(1) と、プッシャ(1) に取り付けられる駆動源(2) と、プッシャ(1) に取り付けられ、駆動源(2) により上下動するポンチ(3) と、TABテープ(10)の下に取り付けられ、ポンチ(3) を出入させるダイ(5) と、TABテープ(10)の下に保持され、TABテープ(10)の搬送方向に対してダイ(5) の前部に固定される第1の電極(6) と、プッシャ(1) により第1の電極(6) に押し付けられたTABテープ(10)のパターン(10A) の導通を試験する導通試験器(7) と、TABテープ(10)の下に保持され、TABテープ(10)の搬送方向に対してダイ(5) の後部に固定される第2の電極(8) と、プッシャ(1) により第2の電極(8) に押し付けられたTABテープ(10)のパターン(14)の絶縁を試験する絶縁試験器(9) とを備え、TABテープ(10)を第1の電極(6) から第2の電極(8) に向かって順送りし、プッシャ(1) を昇降させてTABテープ(10)を第1の電極(6) とダイ(5) と第2の電極(8) に接触させ、導通試験後のTABテープ(10)をポンチ(3) とダイ(5)で打ち抜くことを特徴とするTABテープ試験装置。
IPC (2件)：
引用特許：
前のページに戻る
