特許
J-GLOBAL ID：200903020912083230
異常現象の原因診断方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田北 嵩晴
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-339008
公開番号（公開出願番号）：特開平7-159289
出願日： 1993年12月03日
公開日（公表日）： 1995年06月23日
要約：
【要約】【目的】 条件変化により状態変数量が変化しても劣化等の監視を行えるようにする。【構成】 稼働中の被診断機器または被診断設備の状態変数及び原因変数を測定し(ステップ101)、これらに基づいて前記状態変数に対する原因変数毎の影響係数を算出し(ステップ103)、この影響係数と正常時の影響係数とを比較してその変化割合が最大の前記原因変数を異常原因として特定する(ステップ104〜108)。
請求項（抜粋）：
稼働中の被診断機器または被診断設備もしくは品質の劣化状態を示す状態変数及び劣化状態を示す原因変数を測定し、これらに基づいて前記状態変数に対する原因変数毎の影響係数を算出し、この影響係数と正常時の影響係数とを比較してその変化割合が最大の前記原因変数を異常原因として特定することを特徴とする異常現象の原因診断方法。
IPC (3件)：
G01M 19/00
, G01H 17/00
, G05B 23/02 302
