特許
J-GLOBAL ID：200903020933749610
全反射吸収スペクトル測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-114323
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294421
出願日： 1994年04月28日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：
【要約】【目的】 1つの測定部ユニットで固体試料及び液体試料の双方の測定を行なえるようにする。また、反射面を容易に洗浄できるようにする。【構成】 測定部ユニット本体の中央の平坦部11に、反射面12aを僅かに突出させた状態でATRプリズム12を埋設し、その周囲に排液溝13を設ける。また、排液溝13の底部にはドレイン孔14を設ける。
請求項（抜粋）：
反射面を僅かに突出させた状態でATRプリズムを固定したプリズム固定部と、プリズム固定部の周囲に設けた排液溝とを有する測定部ユニットを備えたことを特徴とする全反射吸収スペクトル測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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