特許

J-GLOBAL ID：200903020961070852

3次元座標測定装置、および3次元座標測定方法

発明者： 大河内 禎一 ,  ▲福▼井 寿男
出願人/特許権者： 大河内 禎一 ,  ▲福▼井 寿男 ,  学校法人愛知学院
代理人 (1件)： 加藤 卓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-087329
公開番号（公開出願番号）：特開2003-279313
出願日： 2002年03月27日
公開日（公表日）： 2003年10月02日
要約：

【要約】【課題】 立体撮影方式による座標測定処理において、一の撮影画像上の測定点の対応点を他の撮影画像上で容易かつ正確に求め、高精度な座標測定を行なえるようにする。【解決手段】 複数の撮影光学系(O,O’)の1つに光軸を一致させた照明光学系を設け、平行光束の照明光Iを被写体POに照射し、撮影光学系(O)で得られた画像データ輝度曲線Ia上の測定点(Qai)に対応する対応点(Qbi)を他の撮影光学系(O’)で得られた画像データIb上で求め、得られた測定点(Qai)および対応点(Qbi)の各画像データ上の像面座標に基づき、測定点の3次元座標値の内少なくとも1座標軸に関する座標値を測定する座標演算を行なう。

請求項（抜粋）：

複数の撮影光学系を用いて被写体の画像を撮影し、前記被写体上の測定点の3次元座標値を測定する3次元座標測定装置において、前記複数の撮影光学系の1つに光軸を一致させた照明光学系を設け、前記照明光学系により平行光束の照明光を被写体に照射し、前記複数の撮影光学系のうち一の撮影光学系で得られた画像データ上の前記測定点に対応する対応点を他の撮影光学系で得られた画像データ上で求め、得られた測定点および対応点の各画像データ上の像面座標に基づき、測定点の3次元座標値の内少なくとも1座標軸に関する座標値を測定する座標演算を行なうことを特徴とする3次元座標測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 3/00 300

FI (3件)：

G01B 11/00 H ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 3/00 300

Fターム (16件)：

2F065AA04 ,  2F065BB06 ,  2F065BB07 ,  2F065HH03 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL46 ,  2F065QQ31 ,  5B057AA20 ,  5B057CA12 ,  5B057CB13 ,  5B057CD14 ,  5B057CE08 ,  5B057DA07