特許
J-GLOBAL ID：200903020969350170
欠点検出方法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大野 精市
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-067862
公開番号（公開出願番号）：特開平6-043117
出願日： 1993年03月26日
公開日（公表日）： 1994年02月18日
要約：
【要約】【目的】 網入りガラスのように、製品自体に製品の一部として光透過率の異なる部分(金属線)が含まれている場合、この異質部分(非欠点)と欠点とを分離して、欠点のみを精度良く検出する方法を提供する。【構成】 入力された空間座標での値を周波数領域でのスペクトルに変換することによって現われるスペクトル成分に対して行うフィルタリング処理において、非欠点である周期構造の周期の整数倍の位置及び、その近傍のスペクトル成分を零にするフィルタリング処理を行い、その結果作られるスペクトルを空間座標での値に変換するようにしている。装置としては、高速フーリエ変換(FFT)装置と、ある決まった位置に現われるスペクトル成分に対してフィルタリング処理を行うフィルターと、高速フーリエ逆変換(IFFT)装置とを用いる。
請求項（抜粋）：
入力された空間座標での値を周波数領域でのスペクトルに変換することによって現われるスペクトル成分に対して行うフィルタリング処理において、非欠点である周期構造の周期の整数倍の位置及び、その近傍のスペクトル成分を零にするフィルタリング処理を行い、その結果作られるスペクトルを空間座標での値に変換することにより、欠点のみを検出することを特徴とする欠点検出方法。
IPC (4件)：
G01N 21/89
, G01N 21/88
, G06F 15/62 400
, G06F 15/68 400
