特許

J-GLOBAL ID：200903021016931309

質量分析用標準物質及び質量分析用標準物質キット

発明者： 山口 健太郎
出願人/特許権者： 日本電子株式会社 ,  山口 健太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-122009
公開番号（公開出願番号）：特開2000-310617
出願日： 1999年04月28日
公開日（公表日）： 2000年11月07日
要約：

【要約】【課題】エレクトロスプレーイオン化法に対して適用可能な精密質量測定用の内部標準物質を提供する。【解決手段】さまざまな質量数のクラウンエーテル類にアルカリ金属塩を付加した錯化合物を主成分とする。

請求項（抜粋）：

クラウンエーテルを主成分とする質量分析用標準物質。

引用文献：

審査官引用 (1件)

• “内部標準物質にクラウンエーテルを用いたESI-MSの精密質量測定法の開発”