特許

J-GLOBAL ID：200903021030934299

質量分析装置及び質量分析方法

発明者： 三村 忠男 ,  広瀬 博 ,  高橋 貞夫
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-121324
公開番号（公開出願番号）：特開平8-279348
出願日： 1987年04月03日
公開日（公表日）： 1996年10月22日
要約：

【要約】【課題】正イオンの試料及び負イオンの試料の分析が可能な質量分析装置を供給することにある。【解決手段】試料を針状電極21の放電によりイオン化し、イオン化した試料を質量分析部20で質量分析するものにおいて、切り替え回路4により、針状電極電圧21に印加する電圧をを正負に切換えられるように構成した。

請求項（抜粋）：

針状電極の放電により試料をイオン化するイオン化部と、前記イオン化された試料を分析する質量分析部を有する質量分析装置において、前記針状電極の電圧は正負に切り替えられることを特徴とする質量分析装置。

IPC (4件)：

H01J 49/10 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/26

FI (4件)：

H01J 49/10 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62 G ,  H01J 49/26

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭59-035347
  
• 特開昭62-015747
  
• 特公昭35-007212
  
• 特開昭61-214346