特許

J-GLOBAL ID：200903021065616982

回路基板装置

発明者： チャオ ネイザン
出願人/特許権者： ミッション テクノロジー
代理人 (1件)： 松原 伸之 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-510187
公開番号（公開出願番号）：特表2001-516037
出願日： 1998年08月17日
公開日（公表日）： 2001年09月25日
要約：

【要約】テスト回路(1)をテストする回路基板装置。回路装置は、単一回路基板、データ収集デバイス(4)および電源デバイス(5)を含む。データ収集デバイスおよび電源デバイスは、単一回路基板上に配置される。単一回路基板は、データ収集デバイス(4)がテスト回路から出力信号を受信できるよう、テスト回路に結合される。電源はテスト回路に電力を提供する。

請求項（抜粋）：

テスト回路をテストする回路装置であって、 テスト回路に結合された単一回路基板と、 単一回路基板上に配置されたデータ収集デバイスとを備え、データ収集デバイスはテスト回路からテスト出力信号を受信し、さらに、 単一回路基板上に配置された電源デバイスを備え、電源がテスト回路の作動をテストするためにテスト回路に電力を提供する回路装置。

IPC (3件)：

G01R 35/00 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/319

FI (3件)：

G01R 35/00 L ,  G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 R

Fターム (8件)：

2G032AA00 ,  2G032AD01 ,  2G032AE06 ,  2G032AE07 ,  2G032AE14 ,  2G032AG01 ,  2G032AJ02 ,  2G032AL00