特許

J-GLOBAL ID：200903021162230053

探傷検査方法

発明者： 松本 善博 ,  青木 一彦
出願人/特許権者： 原子燃料工業株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 正年 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-018244
公開番号（公開出願番号）：特開平9-189682
出願日： 1996年01月10日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：

【要約】【課題】 欠陥形状の定量的な評価の性能向上を達成し得る探傷検査方法。検査範囲内の確実な探傷に有用な多数の欠陥情報を、迅速に得ることができる探傷検査方法。【解決手段】磁気検出手段として、被検体に対して交流磁場を印加する磁場発生部との相対位置が互いに異なる複数列の検出アレイを構成する複数の検出部を有するものを用い、被検体に対して交流磁場を印加すると共に、検出アレイの各々により探傷検査範囲を面状に走査して、被検体表面に交叉する磁場の強度及び/又は位相の変化の複数の分布情報を得ることにより、被検体に存在する欠陥を検査する。

請求項（抜粋）：

被検体に対して交流磁場を印加すると共に、該交流磁場の変化を磁気検出手段により検出しつつ被検体の探傷検査範囲を走査して、該被検体に存在する欠陥を検査する探傷検査方法であって、前記磁気検出手段として、前記交流磁場を印加する磁場発生部との相対位置が互いに異なる複数列の検出アレイを構成する複数の検出部を有するものを用い、前記検出アレイの各々により前記探傷検査範囲を走査して、被検体表面に交叉する磁場の強度及び/又は位相の変化の複数の分布情報を得ることを特徴とする探傷検査方法。