特許
J-GLOBAL ID：200903021199919981
三次元形状計測解析法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉信 興
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-058690
公開番号（公開出願番号）：特開平8-254409
出願日： 1995年03月17日
公開日（公表日）： 1996年10月01日
要約：
【要約】【目的】 大型構造物の三次元形状を高精度かつ高能率で計測する。【構成】 計測対象物の測点上に設けられた多数のタ-ゲットを同時に視準する2台一組のモ-タ-駆動可能な撮像装置搭載の測角計と、撮像装置で把えたタ-ゲット画像を解析する画像処理装置と、計測条件の設定,座標変換,解析を行う三次元計測システムを用いて、前記システムに入力した座標値を座標変換して計測機を駆動しタ-ゲットを自動的に追尾して自動的に測点の三次元座標値を計測する。
請求項（抜粋）：
計測対象物上の測点に設けたタ-ゲットを視準して、各測点の三次元座標値を計測するシステムにおいて、測点上に設置されたタ-ゲットと、2台一組の撮像装置搭載の視準方向を測角する機能を備えた計測機、および撮像されたタ-ゲットの画像を解析する画像処理装置で構成された計測装置を用いて、それぞれの撮像装置の視準軸が測定対象タ-ゲット内に入った状態で測角を行うとともに、画像処理装置にて撮像されたタ-ゲット像を解析し、それぞれの視準点からのタ-ゲット像の中心のずれ量とタ-ゲット面の傾きを求め、演算により視準点の三次元座標値の補正を行うことによって、タ-ゲット中心点の三次元座標値を求めることを特徴とする三次元座標計測解析法。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01C 15/00
, G01C 15/06
, G06T 7/00
G01B 11/24 C
, G01C 15/00 A
, G01C 15/06 T
, G06F 15/62 415
