特許

J-GLOBAL ID：200903021232922233

論理回路のテストパタン生成方法及び装置

発明者： 米徳 博文
出願人/特許権者： エヌイーシーマイクロシステム株式会社
代理人 (1件)： 堀 城之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-277651
公開番号（公開出願番号）：特開2002-090428
出願日： 2000年09月13日
公開日（公表日）： 2002年03月27日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、順序回路用ATPGシステム及び組み合わせ回路用ATPGシステムが生成するテストパタン長を短縮できる論理回路のテストパタン生成方法及び装置を提供することを課題とする。【解決手段】 テストパタンの再活性化手法をテストパタン生成工程において繰り返すことによるテストパタン圧縮機能、及び当該繰り返し工程において用いられる複数のテストパタンの中から最も多くの未検出故障を検出するテストパタンを識別することによるテストパタン圧縮機能を、PPPF故障シミュレーション手法を用いることで同時に高速に両立する。

請求項（抜粋）：

テストパタンを生成するために必要となる回路情報及び故障情報を外部記憶装置から入力する回路情報・故障情報入力工程と、テストパタンを生成させるべき対象とする故障を選択する処理対象故障選択工程と、生成された全てのテストパタンの情報及び処理された故障の情報を外部記憶装置に出力するテストパタン情報・故障情報出力工程と、テストパタン生成を終了するかどうかを、故障検出率、テストパタン数、処理時間、及び未検出故障数が希望する条件を満たしているかどうかの判断を行い、テストパタン生成を終了すると判断した場合は、前記テストパタン情報・故障情報出力工程に移行し、テストパタン生成を続行すると判断した場合は、前記処理対象故障選択工程に移行するテストパタン生成終了判定工程と、前記処理対象故障選択工程にて選択した故障を検出するために必要となる1個以上のテストパタンの生成を試み、1個以上のテストパタンを生成できなかった場合は、前記テストパタン生成終了判定工程に戻り、1個以上のテストパタンを生成できた場合は、テストパタン再活性化を行う工程に移行する処理対象故障検出テストパタン生成工程と、未検出故障の中で1個以上のテストパタンで検出できる故障を識別し、1個以上のテストパタンを構成している外部入力端子の中で故障の検出に論理的に必要のない外部入力端子を識別し、それらの外部端子に不確定値を割り当て、当該1個以上のテストパタンをL組だけ複製し、各々の複製された1個以上のテストパタン中の不確定値に疑似乱数を用いて異なる1個以上のテストパタンとなるように論理値”1”もしくは論理値”0”を割り当て、それぞれ異なる値を有する複製された1個以上のテストパタンをPPPF故障シミュレーション手法を用いて、未検出故障の中からM故障に1故障の割合でサンプリングした未検出故障に対して故障シミュレーションを行い、サンプリングされた未検出故障を最も多く検出した複製された1個以上のテストパタンを前記処理対象故障選択工程において選択された故障を検出する1個以上のテストパタンとして選択し、前記処理対象故障検出テストパタン生成工程で生成された1個以上のテストパタンをより多くの故障を検出できる1個以上のテストパタンとして再活性化するテストパタン再活性化工程と、前記テストパタン再活性化工程で検出されなかった未検出故障に対して、故障シミュレーションを行う未検出故障用故障シミュレーション工程と、前記テストパタン再活性化工程がN回行われたか判断し、N回行われた場合は、前記未検出故障用故障シミュレーション工程に移行し、N回行われていない場合は、前記テストパタン再活性化工程に再度移行するテストパタン再活性化判定工程と、前記テストパタン再活性化工程で再活性化された1個以上のテストパタンを外部記憶装置に出力するテストパタン出力工程を有することを特徴とする論理回路のテストパタン生成方法。

IPC (4件)：

G01R 31/3183 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 17/50 670

FI (4件)：

G06F 11/22 310 B ,  G06F 17/50 670 J ,  G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 F

Fターム (12件)：

2G032AA01 ,  2G032AC08 ,  2G032AE10 ,  2G032AE12 ,  2G032AG02 ,  2G032AG10 ,  5B046AA08 ,  5B046BA09 ,  5B046JA04 ,  5B048AA01 ,  5B048DD06 ,  5B048DD16