特許

J-GLOBAL ID：200903021237794497

装置の配線異常検出方法及び装置の配線異常検出装置

発明者： 高木 睦 ,  ▲高▼地 一
出願人/特許権者： コニカ株式会社
代理人 (1件)： 井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-084418
公開番号（公開出願番号）：特開2002-286781
出願日： 2001年03月23日
公開日（公表日）： 2002年10月03日
要約：

【要約】【課題】 不具合箇所の早期発見や継続的検査による履歴管理・傾向把握が可能な装置の配線異常検出方法を実現することを目的としている。【解決手段】 装置本体に複数のオプション機器を設置することが可能であり、基板インターフェース制御として基板間でデータ転送を行なうためのデータ転送手段を備えた半導体集積回路と、各基板上の半導体集積回路同士を接続する配線と、装置の各部を制御する中央演算手段11とを有する装置であって、基板上の半導体集積回路と基板上の半導体集積回路とが、或いは前記装置に搭載している基板上の半導体集積回路同士とがデータ転送手段を用いて基板間の配線の異常検出を実行し、前記配線の異常検出の結果を中央演算手段11に送信するという一連の配線異常検出を、装置1に接続した制御装置70にて制御し、検査結果を中央演算手段11から制御装置70に送信するように構成する。

請求項（抜粋）：

装置本体に複数のオプション機器を設置することが可能であり、基板インターフェース制御として基板間でデータ転送を行なうためのデータ転送手段を備えた半導体集積回路と、各基板上の半導体集積回路同士を接続する配線と、装置の各部を制御する中央演算手段とを有し、前記オプション機器に搭載している基板上の半導体集積回路と前記装置に搭載している基板上の半導体集積回路とが、或いは前記装置に搭載されている基板上の半導体集積回路同士とがデータ転送手段を用いて基板間の配線の異常検出を実行し、前記配線の異常検出の結果を中央演算手段に送信するという一連の配線異常検出を、装置に接続した制御装置にて制御し、検査結果を中央演算手段から制御装置に送信することを特徴とする装置の配線異常検出方法。

IPC (5件)：

G01R 31/02 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/3185 ,  G06F 11/00 320 ,  G06F 11/22 370

FI (5件)：

G01R 31/02 ,  G06F 11/00 320 L ,  G06F 11/22 370 D ,  G01R 31/28 U ,  G01R 31/28 W

Fターム (20件)：

2G014AA01 ,  2G014AB59 ,  2G014AB62 ,  2G014AC15 ,  2G014AC19 ,  2G132AA13 ,  2G132AA20 ,  2G132AD15 ,  2G132AE00 ,  2G132AE16 ,  2G132AK07 ,  2G132AL09 ,  2G132AL12 ,  2G132AL31 ,  5B048AA05 ,  5B048AA20 ,  5B048CC17 ,  5B048EE07 ,  5B048FF01 ,  5B048FF04