特許
J-GLOBAL ID:200903021274033145

テストリーク装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 敏雄 (外4名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-600072
公開番号(公開出願番号):特表2002-537552
出願日: 1999年11月18日
公開日(公表日): 2002年11月05日
要約:
【要約】本発明は、供給テストガス有利にはヘリウムと、漏れ率規定部材(14)とを備えたテストリーク装置(1)に関するものであって、包装物・漏れ検査器のためにも適した、簡単で頑丈で、容易に後充てん可能であるテストリーク装置を提供するために、貯蔵テストガスが、実質的に大気圧下で、閉鎖部材(3)を備えた再閉鎖可能な貯蔵容器(2)内に配置されており、貯蔵容器(2)が閉じられた状態で閉鎖部材(3)と貯蔵容器(2)との間にテストガスが漏れないようにシールするシール部材(11)が設けられており、漏れ率規定部材(14)が前記閉鎖部材(3)の構成部であることを特徴としている。
請求項(抜粋):
供給テストガス有利にはヘリウムと、漏れ率規定部材(14)とを備えたテストリーク装置(1)において、 供給テストガスが、実質的に大気圧下で、閉鎖部材(3)を備えた再閉鎖可能な貯蔵容器(2)内に配置されており、該貯蔵容器(2)が閉じられた状態で閉鎖部材(3)と貯蔵容器(2)との間にテストガスが漏れないようにシールするシール部材(11)が設けられており、漏れ率規定部材(14)が前記閉鎖部材(3)の構成部であることを特徴とする、テストリーク装置。
FI (2件):
G01M 3/20 W ,  G01M 3/20 B
Fターム (6件):
2G067AA47 ,  2G067BB02 ,  2G067BB34 ,  2G067CC04 ,  2G067CC13 ,  2G067CC14
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平4-194719

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