特許
J-GLOBAL ID：200903021296900373
反射光による被測定物の識別方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 成示 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-327273
公開番号（公開出願番号）：特開平8-184421
出願日： 1994年12月28日
公開日（公表日）： 1996年07月16日
要約：
【要約】【目的】 被測定物の斜め上方より被測定物を検出して識別する、反射光による被測定物の識別方法を提供することにある。【構成】 本発明の反射光による被測定物の識別方法は、光源2と検出器3を備えたセンサ4を使用し、光源2の光を被測定物1に対して鋭角に照射し、前記被測定物1からの散乱光を検出器3に取り込み、予め測定された値と比較して、被測定物を識別することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
光源(2)と検出器(3)を備えたセンサ(4)を使用し、光源(2)の光を被測定物(1)に対して鋭角に照射し、前記被測定物(1)からの散乱光を検出器(3)に取り込み、予め測定された値と比較して、被測定物(1)を識別することを特徴とする反射光による被測定物の識別方法。
IPC (2件)：
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