特許

J-GLOBAL ID：200903021305062157

部品マーク検出方法及び装置

発明者： 中村 淳一 ,  安倍 安一
出願人/特許権者： ティーディーケイ株式会社
代理人 (1件)： 村井 隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-067545
公開番号（公開出願番号）：特開平7-249092
出願日： 1994年03月11日
公開日（公表日）： 1995年09月26日
要約：

【要約】【目的】 部品断面寸法差に関係なく1度にマーク面を検出可能とし、部品マーク面検出時間の短縮を図る。【構成】 四角柱状のチップ部品8のマーク面を1台の視覚認識カメラ7で検出する場合、前記チップ部品8の側面に傾斜して対向する反射体9を前記部品8の両側にそれぞれ配置し、前記部品8の前記カメラ7への対向面及び両側面を一度に前記カメラ7で撮像する構成である。

請求項（抜粋）：

四角柱状部品のマーク面を1台の視覚認識カメラで検出する部品マーク検出方法であって、前記部品の側面に傾斜して対向する反射体を前記部品の両側にそれぞれ配置し、前記部品の前記カメラへの対向面及び両側面を一度に前記カメラで撮像することを特徴とする部品マーク検出方法。

IPC (3件)：

G06K 7/10 ,  B65B 15/04 ,  H05K 13/00

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-042411
  
• 特開平4-147697
  
• 特開昭63-042411
  
• 特開平4-147697