特許

J-GLOBAL ID：200903021323030025

定量分析方法

発明者： 武智 真一 ,  牧野 義和
出願人/特許権者： 川崎製鉄株式会社
代理人 (1件)： 大島 正孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-221757
公開番号（公開出願番号）：特開平7-077522
出願日： 1993年09月07日
公開日（公表日）： 1995年03月20日
要約：

【要約】【構成】 固定相が充填されたカラムに移動相と共に試料を通過せしめて試料中の特定成分の濃度に応じた電気信を得、計算しきい値および計算区間が設定された演算器により該電気信号について面積演算を行い該特定成分の濃度を計算することからなる、複数の同種試料を同一カラムを用いて断続的にクロマトグラフ法で定量分析する方法であって、(A)試料の特定成分の電気信号について計算区間内で計算しきい値をはじめて越えた時刻tonと計算しきい値を下回った時刻toffを特定し、(B)これらの二つの時刻を挾む区間を次の試料の分析のための計算区間として演算器により設定し、(C)そして以後の試料について上記(A)および(B)を繰り返すことを特徴とするクロマトグラフ法による定量分析方法。【効果】 本発明によればカラム充填された吸着剤の劣化に伴い測定成分のピーク区間が移動しても、人手を介さずに計算区間が自動的に変更され正しく面積演算が行われ正確な濃度測定が可能である。

請求項（抜粋）：

固定相が充填されたカラムに移動相と共に試料を通過せしめて試料中の特定成分の濃度に応じた電気信を得、計算しきい値および計算区間が設定された演算器により該電気信号について面積演算を行い該特定成分の濃度を計算することからなる、複数の同種試料を同一カラムを用いてクロマトグラフ法で定量分析する方法であって、(A)試料の特定成分の電気信号について計算区間内で計算しきい値をはじめて越えた時刻tonと計算しきい値を下回った時刻toffを特定し、(B)これらの二つの時刻を挾む区間を次の試料の分析のための計算区間として演算器により設定し、(C)そして以後の試料について上記(A)および(B)を繰り返すことを特徴とするクロマトグラフ法による定量分析方法。