特許
J-GLOBAL ID：200903021343549850
固体撮像素子の検査装置および検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 和憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-200405
公開番号（公開出願番号）：特開2007-019967
出願日： 2005年07月08日
公開日（公表日）： 2007年01月25日
要約：
【課題】 複数の読み出し方式における欠陥画素の位置情報の取得を効率よく行うことができる固体撮像素子の検査装置および検査方法を提供する。【解決手段】 静止画撮影モード時には全画素読み出しで駆動され、動画撮影モード時には画素間引き読み出しで駆動されるCCDイメージセンサを検査する検査工程において、CCDイメージセンサを全画素読み出しで駆動することによって得られた静止画フレームに対して平滑化処理を施して平滑化データを生成するとともに、静止画フレームと平滑化データとの差分データを生成し、この差分データを所定の基準値と比較することで静止画欠陥アドレスを検出する。そして、検出した静止画欠陥アドレスを、全画素読み出しと画素間引き読み出しとの読み出し方式の違いに基づいて変換することにより、動画フレームにおける動画欠陥アドレスを生成する。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
第1および第2の読み出し方式で固体撮像素子を駆動する駆動手段と、
前記固体撮像素子を前記第1の読み出し方式で駆動することによって得られた画像データから欠陥画素の位置情報を検出する欠陥画素検出手段と、
この欠陥画素検出手段によって検出された前記位置情報を、前記第1および第2の読み出し方式の違いに基づいて変換し、前記第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報を生成する位置情報変換手段とを備えたことを特徴とする固体撮像素子の検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04N5/335 P
, H04N17/02 D
5C024CX23
, 5C024CY44
, 5C061BB02
, 5C061BB03
, 5C061CC01
