特許
J-GLOBAL ID:200903021392340672

耐光試験方法及び耐光試験機

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-133832
公開番号(公開出願番号):特開平6-323983
出願日: 1993年05月12日
公開日(公表日): 1994年11月25日
要約:
【要約】【目的】 試料の表面温度を均一にし、特に風の影響により表面の性状が変化する試料の評価を再現性よく試験できる耐光試験方法及び耐光試験機に関する。【構成】 試験槽17内に光源16が配してある。この光源16の配光曲線に一致する位置に試料11を取り付ける試料ホルダー10を取り付けてその周りを回転する回転枠12からなる試料回転システム2で、光源16と試料11との距離を200mm〜325mmの範囲としてある。又、この試料回転システム2に取り付けた試料11の表面に空気を0.3 m/sec 〜0.8 m/sec の平均風速(V)で流す空気導入システム3を設けてある。ここで、前記試料の前記平均風速(V)に対する移動速度を0.35V m/sec 〜0.5V m/sec の範囲とした。さらに、前記平均風速(V)に対する移動速度に相当する試料11の回転方向をその範囲内で一定回転数毎に反転させる反転システム4を備えている。
請求項(抜粋):
試験槽内に配した光源と、その光源の配光曲線にほぼ一致する位置で光源からの放射を均一に受けるように、試料を取り付けるホルダーとこのホルダーを取り付けて光源の中心軸を回転軸として回転する回転枠からなる試料回転システムと、空気を前記回転枠と同方向に流し、試料回転システムに取り付けた試料の表面に空気を0.3 m/sec 〜0.8 m/sec の平均風速(V)で流すようにした温度調節を行うための空気導入システムとを備えた耐光試験機を用いて行う試験において、前記試料回転システムの回転枠で、光源の中心を通り光源の中心軸と直交する平面とその中心軸と平行に配した試料の表面を含む平面とが直交する距離(r:光源と試料間の距離)を200mm〜325mmとし、この回転枠の回転に伴う上記範囲内の距離に配した試料の前記平均風速(V)に対する移動速度を0.35V m/sec 〜0.5V m/sec とすることを特徴とする耐光試験方法。
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平3-274441

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