特許
J-GLOBAL ID:200903021396322687

焦点検出光学系

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山下 穣平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-163018
公開番号(公開出願番号):特開2000-352662
出願日: 1999年06月09日
公開日(公表日): 2000年12月19日
要約:
【要約】【課題】 広い波長範囲の光に対して高精度の焦点検出を行うことが可能な焦点検出光学系を提供する。【解決手段】 撮影レンズ10によって結像面1に形成された被写体の一次像を、フィールドレンズ2を介して絞りマスク3付の一対の二次結像レンズ4,4’を用いて光束分割によりラインセンサー6上に一対の二次像として再結像させる。一対の二次像のそれぞれについて、複数のプリズムを互いに平行になるようにセンサー受光要素の配列ピッチより小さいピッチで二次結像レンズ4,4’の配列方向たる光束分割方向に配列し且つ二次結像レンズ4,4’の近傍にて共通の基材を用いて一体的に形成した光束分離光学素子5,5’により光束分割方向に分離してラインセンサー6上にその受光要素の配列ピッチとは異なるピッチで複数の分離像を形成する。
請求項(抜粋):
撮影レンズによって形成された被写体の一次像を一対の二次結像レンズを用いて光束分割によりセンサー上に一対の二次像として再結像させ、前記センサーとして少なくとも前記光束分割の方向に沿って受光要素を配列してなるものを用い、前記一対の二次像どうしの相対的位置ずれを検出することにより焦点位置の検出を行う焦点検出光学系において、前記一対の二次像のそれぞれについて前記光束分割の方向に分離して前記センサー上に前記受光要素の配列ピッチとは異なるピッチで複数の分離像を形成するようにしてなることを特徴とする焦点検出光学系。
IPC (2件):
G02B 7/34 ,  G03B 13/36
FI (2件):
G02B 7/11 C ,  G03B 3/00 A
Fターム (10件):
2H011AA01 ,  2H011BA23 ,  2H011BB01 ,  2H051BA04 ,  2H051CB06 ,  2H051CB08 ,  2H051CB10 ,  2H051CB14 ,  2H051CB20 ,  2H051GB01

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