特許
J-GLOBAL ID:200903021436560063
配線基板の検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴江 武彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-348281
公開番号(公開出願番号):特開平6-201750
出願日: 1992年12月28日
公開日(公表日): 1994年07月22日
要約:
【要約】【目的】本発明は電子部品を高密度に実装した配線基板における検査を容易に行うことができる検査装置を提供することを目的とする。【構成】被検査体である配線基板に載せられた一方向性導電ゴムからなる導電ブロックと、一面に配線基板の検査用接触点に相当する位置に第一の接続電極を有するとともに他面にこの第一の接続電極と電気的に接続される第二の接続電極を有し一面を導電ブロックに接触させて導電ブロックに載せられた接続基板と、この接続基板の第二の接続電極に接触するとともに検査回路に接続された検査素子とを具備することを特徴とする。
請求項(抜粋):
被検査体である配線基板に載せられた一方向性導電ゴムからなる導電ブロックと、一面に前記配線基板の検査用接触点に相当する位置に第一の接続電極を有するとともに他面にこの第一の接続電極と電気的に接続される第二の接続電極を有し前記一面を前記導電ブロックに接触させて前記導電ブロックに載せられた接続基板と、この接続基板の前記第二の接続電極に接触するとともに検査回路に接続された検査素子とを具備することを特徴とする配線基板の検査装置。
IPC (2件):
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