特許

J-GLOBAL ID：200903021437332366

固定ゴニオメータおよびそれを備えた蛍光X線分析装置

発明者： 小倉 啓助 ,  小林 寛 ,  中野 賢一
出願人/特許権者： 理学電機工業株式会社
代理人 (1件)： 杉本 修司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-390718
公開番号（公開出願番号）：特開2003-194743
出願日： 2001年12月25日
公開日（公表日）： 2003年07月09日
要約：

【要約】【課題】 固定ゴニオメータおよびそれを備えた蛍光X線分析装置において、簡単な構造で、試料の微小部位からの蛍光X線を十分な強度で取り出すことができるものを提供する。【解決手段】 表面2aの最大幅Dmaxが3mm以下である微小部位2 に対し、そこから発生する蛍光X線7 を通過させる絞り8 が直管で、直管8 の中心軸C において直管8 の試料1 側の一端から微小部位表面2aに至る距離L1を、直管8 の長さL2の6分の1以下とする。

請求項（抜粋）：

試料中の所定の一元素から発生する蛍光X線を検出するための固定ゴニオメータであって、試料の微小部位から発生する蛍光X線を通過させる絞りと、その絞りを通過した蛍光X線が入射され、前記所定の一元素から発生する蛍光X線を分光する分光素子と、その分光素子で分光された蛍光X線が入射され、その蛍光X線を検出する単一の検出器とを備え、前記微小部位表面の最大幅が3mm以下であり、前記絞りが直管で、その中心軸において前記直管の試料側の一端から前記微小部位表面に至る距離が、前記直管の長さの6分の1以下である固定ゴニオメータ。

IPC (3件)：

G01N 23/223 ,  G21K 1/02 ,  G21K 1/06

FI (3件)：

G01N 23/223 ,  G21K 1/02 R ,  G21K 1/06 S

Fターム (11件)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA02 ,  2G001EA08 ,  2G001KA01 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001SA02 ,  2G001SA07 ,  2G001SA30