特許

J-GLOBAL ID：200903021469949888

指紋検索と調査の方法および装置

発明者： デイル アール.セトラック ,  ジョーン シー.シュミット ,  マーク イー.ボス
出願人/特許権者： ハリス・コーポレーション
代理人 (1件)： 平田 忠雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-008916
公開番号（公開出願番号）：特開平9-204521
出願日： 1997年01月21日
公開日（公表日）： 1997年08月05日
要約：

【要約】【課題】 基準用指紋の比較的大きなデータベースの効率的な検索を行わせるための、更に若干の指紋が品質の劣化を示す場合でもその比較的大きなデータベースを効率的に検索するための方法および装置を提供する。【解決手段】 複数種類の基準用指紋を検索し、かつ調査して、サンプル指紋が基準用指紋の一つと合致するかどうかを決定する方法において、指紋の特徴に基づいて基準用指紋およびサンプル指紋についての各索引値と共に概して平均的に分布しており、かつ連続的な比較的多くの個体数に及ぶ索引値を決定する工程と、サンプル指紋の索引値に関する第一領域内に索引値を有する基準用指紋の第一サブセットを選択する工程と、サンプル指紋を基準用指紋の第一サブセットの各指紋と照合して、そのサンプル指紋と基準用指紋の一つとの間に一致があるかどうかを確定する工程とを含んで構成され、そのサンプル指紋を基準用指紋の全てと照合する必要はない方法。基準用指紋およびサンプル指紋について索引値を確定する工程は好ましくは、指紋の隆起部流れの曲率に基づく同一性を確認することを含んで成る。

請求項（抜粋）：

複数種類の基準用指紋を検索および調査して、サンプル指紋が基準用指紋の一つと合致するかどうかを決定する方法において、少なくとも1種類の所定の指紋特性に基づいて基準用指紋およびサンプル指紋についての各索引値と共に比較的多くの個体数に亘り概して平均的に分布している索引値を確定する工程と、サンプル指紋の索引値に関する第一領域内に索引値を有する基準用指紋の第一サブセットを選択する工程と、サンプル指紋を基準用指紋の第一サブセットの各指紋と照合して、そのサンプル指紋と基準用指紋の一つとの間に一致があるかどうかを確認する工程とを含んで構成されることを特徴とする方法。