特許
J-GLOBAL ID：200903021475959755
データ処理装置及び物理量測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-198217
公開番号（公開出願番号）：特開平6-044386
出願日： 1992年07月24日
公開日（公表日）： 1994年02月18日
要約：
【要約】【目的】 EEPROMのデータの化けや喪失に対して安定性を向上させるように改良したデータ処理装置及び物理量測定装置を提供するにある。【構成】 マイクロプロセッサの制御のもとに出力されたデータにワード単位で冗長化ビットを付加して付加ビットデータとして出力する冗長化ビット生成手段と、この付加ビットデータが2つのデータブロックに分けて2重に格納される一対のEEPROMと、読み出された各データブロックの付加ビットデータのパリテイチエックを行ない真なる側のデータを判定して判定信号を出力する冗長化ビット検査回路と、これらの付加ビットデータのうち判定信号に基づく側のデータを選択する選択回路とを具備し、先のマイクロプロセッサは先の選択回路で選択されたデータを取り込むようにしたデータ処理装置及び物理量測定装置である。
請求項（抜粋）：
入力されたデータを用いてデータ処理を行うマイクロプロセッサを搭載するデータ処理装置において、前記マイクロプロセッサの制御のもとに出力された前記データにワード単位で冗長化ビットを付加して付加ビットデータとして出力する冗長化ビット生成手段と、この付加ビットデータが2つのデータブロックに分けて2重に格納される一対のEEPROMと、読み出された各データブロックの付加ビットデータのパリテイチエックを行ない真なる側のデータを判定して判定信号を出力する冗長化ビット検査回路と、これらの付加ビットデータのうち判定信号に基づく側のデータを選択する選択回路とを具備し、前記マイクロプロセッサは前記選択回路で選択されたデータを取り込むようにしたデータ処理装置。
IPC (3件)：
G06F 15/74 320
, G06F 11/16 310
, G06F 12/16 310
