特許

J-GLOBAL ID：200903021494507695

メモリ装置の診断方法

発明者： 日向 一弘 ,  福丸 広昭
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-006091
公開番号（公開出願番号）：特開2000-207291
出願日： 1999年01月13日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】本発明の目的は、ECC訂正したデータを書き込むための付加機構等の特別な機構を持たない汎用の計算機において、メモリの素子故障を診断する方法を提供することにある。【解決手段】ECC訂正したデータを書き込むための付加機構等の特別な機構を持たない汎用の計算機において、メモリの素子故障を診断することを可能とした。

請求項（抜粋）：

プロセッサ,システムコントローラ,入出力コントローラ,主メモリ及びこれらを互いに接続するためのプロセッサバス,メモリバス,システムバスを備え、主メモリからのデータ読み出し時シングルビットエラーが発生した場合はECC(Error Checking and Correcting feature)訂正機構により読み出しデータのみ訂正し、主メモリ上のデータは訂正しない計算機において、シングルビットエラーの発生を時系列的に記憶し、復電によっても揮発しない記憶手段,復電の発生を時系列的に記憶する手段,シングルビットエラーの発生を監視する手段,メモリの診断を行う手段を持ち、メモリの診断を行う手段がシングルビットエラー発生の記憶手段により記録されたメモリアドレスを参照し、規定の時間内に発生したシングルビットエラーのメモリアドレスが規定個数以上の場合はメモリ素子内の制御回路の故障と判断し、交換要求を行い、規定の時間内に発生したシングルビットエラーのメモリアドレスが規定個数未満である場合はα線等の外的要因によるものと判断し、交換要求を行わないことを特徴とするメモリ装置の診断方法。

IPC (3件)：

G06F 12/16 330 ,  G06F 11/34 ,  G11C 16/06

FI (3件)：

G06F 12/16 330 D ,  G06F 11/34 J ,  G11C 17/00 639 C

Fターム (21件)：

5B018GA03 ,  5B018GA05 ,  5B018GA07 ,  5B018HA14 ,  5B018HA25 ,  5B018HA31 ,  5B018JA22 ,  5B018KA01 ,  5B018MA01 ,  5B018NA02 ,  5B018QA13 ,  5B018RA01 ,  5B018RA03 ,  5B018RA04 ,  5B018RA11 ,  5B025AD13 ,  5B025AE09 ,  5B042GA33 ,  5B042JJ17 ,  5B042JJ31 ,  5B042MA08