特許
J-GLOBAL ID：200903021510077825
蛍光X線定量方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-079240
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240808
出願日： 1992年02月29日
公開日（公表日）： 1993年09月21日
要約：
【要約】【目的】 同一の試料中に原子番号が離れた元素が混在しているような場合においても、軽元素から重元素にわたって精度よく定量分析することができる蛍光X線定量方法を提供すること。【構成】 同一試料に対して、管電圧の大きさ、一次X線フィルタの種類、X線パス部における条件などの測定条件を異ならせて複数の測定を行い、そのとき得られる複数の測定データに基づいて連立方程式を立て、この連立方程式を解くことにより、前記試料中に含まれる元素濃度を求めるようにしている。
請求項（抜粋）：
同一試料に対して、管電圧の大きさ、一次X線フィルタの種類、X線パス部における条件などの測定条件を異ならせて複数の測定を行い、そのとき得られる複数の測定データに基づいて連立方程式を立て、この連立方程式を解くことにより、前記試料中に含まれる元素濃度を求めるようにしたことを特徴とする蛍光X線定量方法。
引用特許：
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